為了通過試驗獲得準確和足夠的數(shù)據(jù),有效地反映產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征，加速而又 “真實”地暴露失效模式，以及避免在時間和費用上造成很大浪費,所以，在試驗之前必須 周密地計劃，做出妥善的安排。由于加速壽命老化試驗箱基本與長期壽命試驗的設(shè)備相同，而其試驗應(yīng)力按加速壽命試驗規(guī)定的方式施加,所以,除本章長期壽命試驗提出的幾個注意問題外，根據(jù)加速壽命試驗的特點，還應(yīng)考慮如下幾個問題。
產(chǎn)品的失效是由其失效機理所決定的。失效機理促使失效過程的發(fā)展。同時失效過程進行的快慢又受到環(huán)境條件和工作條件等應(yīng)力的影響。伹是產(chǎn)品所處實際工作狀態(tài) 或儲存狀態(tài)的環(huán)境條件或工作條件等，并不是都能產(chǎn)生同樣的失效機理,可能有多種失效機理同時出現(xiàn)。在一定時期內(nèi)和一定條件下將有些起主導作用的失效機理促使失效過程 發(fā)展。在選擇加速變量時,就要選擇那種對主要失效機理起主導作用的應(yīng)力條件。半導 體器件常選擇溫度作為加速變量。除了溫度和電壓外，有時還選擇電流、功率、相對濕度等作為加速變化。 例如，推算器件在正常溫度下的儲存壽命特征,可以選 擇環(huán)境溫度作為加速變量;如果推算器件在額定負荷條件下的工作壽命特征,也可以選擇 溫度作為加速變量，但此溫度是由電應(yīng)力轉(zhuǎn)化成的溫度與環(huán)境溫度一起形成的結(jié)溫。
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